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在工業控制、數據采集與通訊系統等場景中，差分信號因具備抗共模干擾、低傳輸損耗的優勢，成為高精度信號傳輸的首選形式。芯佰微電子（Corebai）推出的 CBMG709 低壓 CMOS 差分 4:1 多路復用器，憑借寬電源范圍、低導通電阻、高速切換等特性，為差分信號的路由與切換提供了高可靠性解決方案。本文... （來源：技術文章頻道）
多路復用器 工業控制 數據采集 通訊系統 2025-8-28 10:23
該系列為電動汽車和儲能應用帶來了 18 通道監控和 SPI 至 TPL 橋接。 恩智浦半導體推出了 BMx7318/7518 系列電池單元控制器 IC，專為電動汽車以及工業和住宅儲能系統中的高壓電池管理系統而設計。 這些 IC 將模擬前端、電池接線盒和網關功能集成到單個器件中。其先進的架構為提升電池管理性能提供... （來源：技術文章頻道）
恩智浦電動汽車能源系統電池控制IC 2025-7-30 09:45
Pickering將于6月10-13日參加在長春舉行的2025國際光博會 易開發、易部署、高性能的電子測試/驗證系統的領先制造商與服務商，模塊化信號開關和信號仿真解決方案的全球供應商，英國Pickering集團將于2025年6月10日-13日在長春舉辦的2025國際光電博覽會中展示面向航空航天、軍工國防、雷達通... （來源：新聞頻道）
品英Pickering光電 2025-6-9 11:18
作者：Anne Mahaffey，首席應用工程師 摘要 本文詳細介紹了在LTspice®原理圖中添加電壓控制開關的步驟。文中列舉了幾個示例，著重說明了電壓控制開關在瞬態仿真中的使用。 簡介 電壓控制開關是LTspice的基本電路元件，能夠以簡潔的方式在電路中實現開路或短路行為... （來源：技術文章頻道）
LTspice電壓控制開關 2025-5-27 12:13
作者：Lloben Paculanan，產品應用工程師 Chelsea Faye Aure，產品應用工程師 Jan Michael Gonzales，產品應用工程師 摘要 本文探討了隔離式精密信號鏈的參考設計解決方案，以及其在數據采集應用中對保持準確度和提高可靠性的重要作用。 簡介 數字時代改變了解決... （來源：技術文章頻道）
隔離式精密信號鏈數據采集 2025-5-26 15:51
2025年電子設計創新大會將于4月23-24日在北京國家會議中心舉行 易開發、易部署、高性能的電子測試/驗證系統的領先制造商與服務商，英國Pickering集團將于2025年4月23-24日參加電子設計創新大會（EDICON China），展示多款模塊化射頻微波開關和微波開關設計工具Microwave Switching Design Tool（MSD... （來源：新聞頻道）
Pickering品英電子設計創新大會射頻微波開關 2025-4-17 09:45
在不斷發展的汽車技術領域，LiDAR（光探測和測距）傳感器——也就是“激光雷達”——已成為關鍵組件，隨著汽車行業向自主化邁進，激光雷達傳感器在提供安全導航所需的實時3D地圖方面發揮著關鍵作用。激光雷達技術在自動駕駛汽車中的集成增強了車輛的感知能力，從而可以在復雜的駕駛場景中做出更好的決策... （來源：技術文章頻道）
激光雷達 自動駕駛 2025-4-16 14:03
慕尼黑上海電子展將于4月15-17日在上海新國際博覽中心舉行 易開發、易部署、高性能的電子測試/驗證系統的領先制造商與服務商，模塊化信號開關和信號仿真解決方案的全球供應商，英國Pickering集團將在2025年4月15-17日于上海新國際博覽中心舉辦的2025慕尼黑上海電子展（electronica China）... （來源：新聞頻道）
Pickering品英測試系統自動測試舌簧繼電器 2025-4-11 09:30
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 摘要 本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現也很出色，契合了先進內存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備應用PhotoMOS開關 2025-2-19 15:00
歡迎參觀 2025 年 3 月 11-12 日在倫敦舉行的 Space-Comm Expo 展覽會的 A46 展臺 Pickering Interfaces 將在 3 月 11 日至 12 日于英國倫敦 ExCeL 舉行的 2025 年 Space-Comm Expo 展覽會的 A46 展臺上展示用于電子測試和驗證的一系列行業標準模塊化信號切換和仿真產品，包括用于硬件在環仿真的故障... （來源：新聞頻道）
Pickering Interfaces仿真系統 2025-2-14 13:18
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